光耦器的损伤识别与检测

检测时，万用表应置于R×100挡位，不宜使用R×10k挡，以避免电池电压过高造成发光二极管击穿。将红、黑表笔接至输入端，分别测量正向电阻与反向电阻。正常状态下，正向电阻约为数十欧姆，反向电阻应为数千欧姆至数十千欧姆。

若正向电阻与反向电阻数值相近，则表明发光二极管已失效。将万用表切换至R×1挡，红、黑表笔接至输出端，测量其正向电阻与反向电阻，正常情况下两者均应接近无穷大，否则说明光敏管已损坏。

将万用表置于R×10挡，红、黑表笔分别接至输入端与输出端，测量发光管与光敏管之间的绝缘电阻。如有条件，可使用兆欧表进行测量，其额定输出电压应略低于被测光耦器所允许的耐压值。正常状态下，发光管与光敏管之间的绝缘电阻应为无穷大。

光敏电阻的损伤判别与检测

检测时，将万用表置于R×1kΩ挡，使光敏电阻的受光面垂直于入射光线，万用表直接读取的阻值即为亮电阻。

将光敏电阻置于完全黑暗的环境中，此时测得的阻值即为暗电阻。若亮电阻为数千欧姆至数十千欧姆，暗电阻为数十兆欧姆，则表明光敏电阻性能良好。